[发明专利]半导体器件及其制造方法有效
申请号: | 201710296140.1 | 申请日: | 2017-04-28 |
公开(公告)号: | CN107403799B | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
发明(设计)人: | 宇佐美达矢 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/04 | 分类号: | H01L27/04;H01L21/02 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李辉;张昊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开涉及半导体器件及其制造方法,例如,提供了一种半导体器件,其包括能够降低光接收元件的制造成本并改进光接收元件的光学性能的光接收元件。例如,形成Ge光电二极管的结构本体的p型锗层、本征锗层和n型锗层根据连续选择性外延生长来形成。具有开口部分的绝缘膜形成在SOI衬底的硅层上,并且本征锗层形成为从开口部分突出到绝缘膜上方。简而言之,通过使用具有开口部分的绝缘膜,本征锗层的截面形成为蘑菇形状。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,设置有包括光电转换功能的光接收元件,其中所述光接收元件包括:绝缘膜,包括第一表面和与所述第一表面相交的第二表面,第一导电类型的第一半导体层,与所述绝缘膜的所述第一表面接触,本征半导体层,形成在所述第一半导体层之上,与所述绝缘膜的所述第一表面和所述第二表面接触,以及第二导电类型的第二半导体层,所述第二导电类型与所述第一导电类型相反,所述第二半导体层形成在所述本征半导体层之上并且与所述绝缘膜的所述第二表面接触。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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