[发明专利]基于时分复用的光子计数关联成像装置与方法在审
申请号: | 201710297851.0 | 申请日: | 2017-04-29 |
公开(公告)号: | CN106949965A | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 薄遵望;韩申生;龚文林;陈明亮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J1/44 | 分类号: | G01J1/44;G01S17/89 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种基于时分复用的光子计数关联成像装置与方法,该装置由热光源、分光棱镜、参考透镜、面探测器、发射透镜、成像目标、接收望远镜、时分复用光子计数器和计算机组成,其中时分复用光子计数器由n路延时光纤和一个单光子探测器组成。本发明利用n路延时光纤和一个单光子探测器,实现了微弱光探测时的单脉冲光子计数功能,实现了光子计数量级的光强涨落探测,利用对返回光子数目的探测可实现光子计数模式下的关联成像,在弱光探测模式下获取目标的图像信息。 | ||
搜索关键词: | 基于 时分 光子 计数 关联 成像 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基于时分复用的光子计数关联成像装置,其特征在于包括一热光源(1),沿该热光源(1)发出的光束方向设有分光棱镜(2),该分光棱镜(2)将入射光分为反射光束和透射光束,反射光束方向作为参考光路,在该参考光路中沿光路依次放置参考透镜(3)和具有高空间分辨能力的面探测器(4),透射光束方向作为物光路,在该物光路中沿光路依次放置发射透镜(5)、成像目标(6)、接收望远镜(7)和时分复用光子计数器(8);所述的热光源(1)、面探测器(4)和时分复用光子计数器(8)分别与计算机(9)相连,并在计算机(9)的控制下同步工作;所述的热光源(1)、参考透镜(3)、面探测器(4)、发射透镜(5)和成像目标(6)之间的位置满足下列高斯成像关系:1fc=1z1+1z21fw=1z3+1z4]]>其中:fc为参考透镜(3)的焦距;fw为发射透镜(5)的焦距;z1为热光源(1)到参考透镜(3)之间的距离;z2为参考透镜(3)到面探测器(4)的感光面之间的距离;z3为热光源(1)到发射透镜(5)之间的距离;z4为参考透镜(3)到成像目标(6)之间的距离。
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