[发明专利]非均匀性校正时校正参数的标定方法在审
| 申请号： | 201710304490.8 | 申请日： | 2017-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN107101727A | 公开（公告）日： | 2017-08-29 |
| 发明（设计）人： | 韩瑞;顾鑫;钱佳;高志强;隋修宝;王世允;王洪涛 | 申请（专利权）人： | 江苏北方湖光光电有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/20 | 分类号： | G01J5/20 |
| 代理公司： | 总装工程兵科研一所专利服务中心32002 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214000*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种非均匀性校正时校正参数的标定方法，属于红外热成像技术领域。所述方法包括TEC为红外焦平面探测器提供与待测试温区对应的基准温度；在TEC为红外焦平面探测器提供稳定的基准温度后，黑体辐射源在待测试温区的下限温度值工作，计算机保存红外焦平面探测器采集的第一原始图像；黑体辐射源在待测试温区的上限温度值工作，计算机保存红外焦平面探测器采集的第二原始图像；计算机利用第一原始图像和第二原始图像，计算与待测试温区对应的校正参数。本申请利用简单的设备对非制冷红外热成像仪进行快速标定，获得其在高温工作环境中的校正参数，简化标定流程，同时保证非制冷红外热成像仪在高温工作环境中成像质量较好。 | ||
| 搜索关键词： | 均匀 校正 参数 标定 方法 | ||
【主权项】：
一种非均匀性校正时校正参数的标定方法，其特征在于，应用于标定系统中，所述标定系统包括计算机、黑体辐射源以及位于常温环境中的非制冷红外热成像仪，所述非制冷红外热成像仪包括红外焦平面探测器以及半导体热电制冷器TEC，所述红外焦平面探测器与所述黑体辐射源相对，所述方法包括：所述TEC为所述红外焦平面探测器提供与待测试温区对应的基准温度，所述待测试温区为下限温度值至上限温度值形成的温度范围；在所述TEC为所述红外焦平面探测器提供稳定的所述基准温度后，所述黑体辐射源在所述待测试温区的下限温度值工作，所述计算机保存所述红外焦平面探测器采集的第一原始图像；所述黑体辐射源在所述待测试温区的上限温度值工作，所述计算机保存所述红外焦平面探测器采集的第二原始图像；所述计算机利用所述第一原始图像和所述第二原始图像，计算与所述待测试温区对应的校正参数。
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