[发明专利]一种悬浮石墨烯‑硅异质结晶体管结构及其制造方法在审
申请号: | 201710308536.3 | 申请日: | 2017-05-04 |
公开(公告)号: | CN107275398A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | 金智;姚尧;黄昕楠;史敬元;彭松昂;张大勇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L21/335;H01L29/16 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 | 代理人: | 张瑾 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种悬浮石墨烯‑硅异质结晶体管结构,包括基板;形成于基板上的源漏区域;形成于源漏区域之间的沟道沟槽;形成于源漏区域中的重掺杂欧姆接触区域;形成于重掺杂欧姆接触区域上方的源漏电极;其中悬浮石墨烯‑硅异质结晶体管结构还包括石墨烯薄膜,石墨烯薄膜位于沟道沟槽的上方,与部分源漏区域接触形成异质结,且在石墨烯薄膜上形成栅介质层和栅极电极。本发明还提供一种制备悬浮石墨烯‑硅异质结晶体管结构的方法。本发明能够改善石墨烯场效应晶体管的电流开关比,并且抑制基板散射,提升载流子迁移率,有效提高晶体管器件的性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 悬浮 石墨 硅异质 结晶体 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种悬浮石墨烯‑硅异质结晶体管结构,包括:基板;形成于所述基板上的源漏区域;形成于所述源漏区域之间的沟道沟槽;形成于所述源漏区域中的重掺杂欧姆接触区域;形成于所述重掺杂欧姆接触区域上方的源漏电极;其特征在于,所述悬浮石墨烯‑硅异质结晶体管结构还包括石墨烯薄膜,所述石墨烯薄膜位于所述沟道沟槽的上方,与部分所述源漏区域接触形成异质结,且在所述石墨烯薄膜上形成有栅介质层和栅极电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710308536.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体装置及其制造方法
- 下一篇:半导体元件及其制作方法
- 同类专利
- 专利分类