[发明专利]铜CMP的在线平坦度控制系统有效
申请号: | 201710312281.8 | 申请日: | 2017-05-05 |
公开(公告)号: | CN107214610B | 公开(公告)日: | 2019-04-23 |
发明(设计)人: | 李弘恺;路新春;雒建斌;沈攀 | 申请(专利权)人: | 清华大学;天津华海清科机电科技有限公司 |
主分类号: | B24B29/02 | 分类号: | B24B29/02;B24B49/10;B24B51/00;H01L21/306 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 黄德海 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种铜CMP的在线平坦度控制系统,包括:在线测量模块,用于根据当前测量点坐标值判断当前测量点是否处于有效测量区域,并根据厚度测量传感器的当前输出值计算对应的测量值,然后将测量值对应到所属晶圆表面分区,并将各分区内全部测量值的平均值作为对应分区的当前铜层厚度值;分区压力调节模块,用于计算各个分区的铜层厚度值与基准区的铜层厚度值的差值,并根据预设的压力调节量、铜层厚度偏差和各压力分区的初始压力值,计算各压力分区的压力新值;控制模块,用于根据各压力分区的压力新值,控制抛光头对晶圆表面的铜层去除。 | ||
搜索关键词: | cmp 在线 平坦 控制系统 | ||
【主权项】:
1.一种铜CMP的在线平坦度控制系统,所述控制系统应用于旋转型铜CMP设备,其特征在于,所述CMP设备的抛光头包括多个压力分区,所述多个压力分区作用于晶圆表面多个分区,在工艺过程中,晶圆被所述抛光头压在抛光垫上,且随所述抛光头旋转并沿抛光盘径向做往复运动,所述抛光垫附在所述抛光盘上并随所述抛光盘旋转,所述控制系统包括:在线测量模块,用于在线计算当前测量点在运动晶圆表面上的坐标值,并根据所述坐标值判断所述当前测量点处于有效测量区域时,计算所述当前测量点的当前测量值,并根据所述当前测量点的坐标值,将所述当前测量值对应到所属晶圆表面分区,并计算各晶圆表面分区内全部测量值的平均值,并将所述平均值作为对应晶圆表面分区的当前铜层厚度值;分区压力调节模块,用于将晶圆表面各个分区的铜层厚度值与基准区的铜层厚度值相差,得到所述晶圆表面各个分区与所述基准区之间的铜层厚度偏差,其中,所述基准区为所述晶圆表面多个分区的中心区,并根据预设的压力调节量、所述铜层厚度偏差和各压力分区的初始压力值,计算所述各压力分区的压力新值;控制模块,用于根据所述各压力分区的压力新值,控制所述抛光头对所述晶圆表面铜层的去除。
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