[发明专利]一种薄层电阻率测井响应校正的新方法有效
| 申请号： | 201710312919.8 | 申请日： | 2017-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN107463722B | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 胡书勇;刘真谛;姚恒申;朱伟林;邓熠;柳波;胡欣芮 | 申请（专利权）人： | 西南石油大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06Q50/02 |
| 代理公司： | 北京中索知识产权代理有限公司 11640 | 代理人： | 霍春月 |
| 地址： | 610500 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于电阻率测井技术领域，具体而言，涉及一种薄层电阻率测井响应校正的新方法，包括下列步骤：A、计算薄层电阻率测井曲线的纵向几何因子；B、根据纵向几何因子和薄层电导率计算薄层电阻率测井曲线总的接收信号；C、建立薄层电阻率测井响应定量校正模型，并推导相应的校正公式；D、选用合适的校正公式对薄层实测电阻率测井曲线进行逐点校正；E、绘制校正后的薄层电阻率测井曲线。该方法通过对薄层几何因子的分析，建立了几何因子校正模型，给出了薄层电阻率校正的新方法，该新方法能够得到薄层更真实的电阻率，提高了薄层的测井解释精度，为薄层的含油饱和度等参数的计算打好了坚实的基础，避免了漏失具有工业开采价值的薄油层。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄层 电阻率 测井 响应 校正 新方法 | ||
【主权项】：
一种薄层电阻率测井响应校正的新方法，其特征在于，包括下列步骤：A、计算薄层电阻率测井曲线的纵向几何因子；B、根据纵向几何因子和薄层电导率计算薄层电阻率测井曲线总的接收信号；C、建立薄层电阻率测井响应定量校正模型，并推导出相应的校正公式；D、选用合适的校正公式对薄层实测电阻率测井曲线进行逐点校正；E、绘制校正后的薄层电阻率测井曲线。
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