[发明专利]利用双暗态系统测量微波电场的方法有效

专利信息
申请号: 201710315832.6 申请日: 2017-05-08
公开(公告)号: CN106932657B 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 彭延东;张仲健;汪金陵;李晨;任廷琦 申请(专利权)人: 山东科技大学
主分类号: G01R29/12 分类号: G01R29/12
代理公司: 济南领升专利代理事务所(普通合伙) 37246 代理人: 王吉勇;崔苗苗
地址: 266590 山东省青*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种利用双暗态系统测量微波电场的方法,由外腔半导体激光器提供激光通过二向色镜分成探测光和耦合光,经过半波片和偏振分束器同向进入铷原子汽室;两个半波片分别调节探测光场和耦合光场的入射光强,使得控制场探测场;将探测光锁定在铷里德堡原子5S1/2(F=1)→5P3/2跃迁线上,将控制光锁定在铷里德堡态原子5S1/2(F=2)→5P3/2跃迁线上;倍频激光器提供耦合光,调节耦合光在能级5P3/2→53D5/2共振频率耦合;由微波模拟信号发生器提供功率可调的微波信号,耦合里德堡原子态矢53D5/2→54P3/2之间的跃迁,导致里德堡原子的EIT的透射峰发生分裂;用光电探测器检测探测光的吸收特性,由透射峰线宽间距表征微波信号的电场强度。该方法能极大地压窄透射峰线宽提高探测精度和灵敏度。
搜索关键词: 利用 双暗态 系统 测量 微波 电场 方法
【主权项】:
一种利用双暗态系统测量微波电场的方法,其特征是,包括以下步骤:1)由外腔半导体激光器提供780nm的激光先通过二向色镜分成两束光一束作为探测光,另一束作为耦合光,它们分别经过半波片和偏振分束器同向进入铷原子汽室;2)两个半波片分别调节探测光场和耦合光场的入射光强,使得耦合场>>探测场;3)将探测光锁定在铷里德堡原子5S1/2(F=1)→5P3/2跃迁线上,将控制光锁定在铷里德堡态原子5S1/2(F=2)→5P3/2跃迁线上;4)倍频激光器提供波长为480nm耦合光,调节480nm耦合光在能级5P3/2→53D5/2共振频率耦合;5)由微波模拟信号发生器提供频率范围10kHz‑10GHz且功率可调的微波信号,耦合里德堡原子53D5/2→54P3/2之间的跃迁,导致里德堡原子的电磁诱导透明系统的透射峰发生分裂;6)最后用光电探测器检测探测光的吸收特性,由透射峰线宽间距表征微波信号的电场强度。
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