[发明专利]用于闪存的内建自测试电路、系统及方法在审
| 申请号： | 201710322134.9 | 申请日： | 2017-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN107068196A | 公开（公告）日： | 2017-08-18 |
| 发明（设计）人： | 刘峰;张迪宇 | 申请（专利权）人： | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C29/18;G11C29/12;G11C29/04 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人： | 屈蘅,李时云 |
| 地址： | 430205 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种用于闪存的内建自测试电路、系统及方法，其中所述自读取测试模块用于测试所述闪存的读取操作，并将读取测试结果发给所述命令转换模块；所述自擦除测试模块用于测试所述闪存的擦除操作，并将擦除测试结果发给所述命令转换模块；所述自编程测试模块用于测试所述闪存的编程操作，并将编程测试结果发给所述命令转换模块；所述命令转换模块用于将所述测试机台输入的测试命令发给所述自读取测试模块、所述自擦除测试模块和所述自编程测试模块，以及将所述读取测试结果、所述擦除测试结果和所述编程测试结果发给所述测试机台。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 闪存 测试 电路 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于闪存的内建自测试电路，所述用于闪存的内建自测试电路连接在测试机台和测试闪存之间，其特征在于，所述用于闪存的内建自测试电路包括自读取测试模块、自擦除测试模块、自编程测试模块和命令转换模块，其中：所述自读取测试模块用于测试所述闪存的读取操作，并将读取测试结果发给所述命令转换模块；所述自擦除测试模块用于测试所述闪存的擦除操作，并将擦除测试结果发给所述命令转换模块；所述自编程测试模块用于测试所述闪存的编程操作，并将编程测试结果发给所述命令转换模块；所述命令转换模块用于将所述测试机台输入的测试命令发给所述自读取测试模块、所述自擦除测试模块和所述自编程测试模块，以及将所述读取测试结果、所述擦除测试结果和所述编程测试结果发给所述测试机台。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉新芯集成电路制造有限公司，未经武汉新芯集成电路制造有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710322134.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于模制电池组件的装置
- 下一篇：形成柔性碳复合材料自润滑密封件的方法
