[发明专利]一种掩膜版以及阵列基板的制备方法有效
申请号: | 201710325080.1 | 申请日: | 2017-05-10 |
公开(公告)号: | CN107132724B | 公开(公告)日: | 2019-11-26 |
发明(设计)人: | 高冬子 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G03F1/54 | 分类号: | G03F1/54;H01L21/77 |
代理公司: | 44280 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 李庆波<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 518006 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种掩膜版以及阵列基板的制备方法,该掩膜版包括:间隔设置、且为半透光区的至少两个第一子区域;设置于至少两个第一子区域之间的间隔处、且透光率大于第一子区域的至少一个第二子区域;当对光阻进行曝光时,第二子区域曝光的光阻厚度大于第一子区域曝光的光阻厚度,且当制作阵列基板时,至少一个第二子区域对应的位置为阵列基板的至少一个沟道。通过该掩膜版,可以在制作阵列基板时降低曝光与灰化的时间,节省能量。 | ||
搜索关键词: | 一种 掩膜版 以及 阵列 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种掩膜版,其特征在于,包括:/n第一区域,所述第一区域包括至少两个第一子区域,所述至少两个第一子区域间隔设置,且所述至少两个第一子区域为半透光区;/n第二区域,所述第二区域包括至少一个第二子区域,所述至少一个第二子区域设置于所述至少两个第一子区域之间的间隔处,且所述第二子区域的透光率大于所述第一子区域,其中,所述第二子区域是挖空区域或透光率大于所述第一子区域的实体区域,且当所述第二子区域是挖空区域时,所述第二子区域的宽度小于曝光机的解析能力;/n第三区域以及第四区域,所述第三区域以及所述第四区域分别紧靠所述第一区域的两边而设置;/n第五区域以及第六区域,所述第五区域以及所述第六区域分别紧靠所述第三区域以及所述第四区域远离所述第一区域的一边而设置;/n其中,所述第三区域以及所述第四区域为遮光区,所述第五区域以及所述第六区域为全透光区,当对光阻进行曝光时,所述第二子区域曝光的所述光阻厚度大于所述第一子区域曝光的所述光阻厚度,且当制作阵列基板时,所述至少一个第二子区域对应的位置为所述阵列基板的至少一个沟道。/n
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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