[发明专利]双沟槽场效应管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710325675.7 申请日: 2017-05-10
公开(公告)号: CN107221500A 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 白玉明;薛璐;张海涛 申请(专利权)人: 无锡同方微电子有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/28;H01L29/423;H01L29/78
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 余明伟
地址: 214000 江苏省无锡市新区*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种双沟槽场效应管及制备方法,方法包括提供第一导电类型的衬底以及第一导电类型的掺杂层、制作深沟槽区结构、形成深沟槽电极、制作沟槽栅区结构、于掺杂层的表面形成第二导电类型层、于第二导电类型层的表面形成第一导电类型层、制作隔离层、制备源区接触电极、形成上电极、下电极,深沟槽区结构包括第一槽区和第二槽区,第一槽区具有第一厚度的氧化层,第二槽区具有第二厚度的氧化层,第一槽区的宽度小于第二槽区,第二厚度大于第一厚度。本发明通过将深沟槽电极设置为上下不同的两部分,在保证一定的第二厚度氧化层厚度的同时,实现了深沟槽电极之间距离的增大,从而有利于后续元器件的制备,简化了生产工艺,降低了制备成本。
搜索关键词: 沟槽 场效应 及其 制备 方法
【主权项】:
一种双沟槽场效应管的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:1)提供第一导电类型的半导体衬底,于所述半导体衬底表面形成第一导电类型的掺杂层;2)于所述掺杂层中制作间隔排列的两个深沟槽区结构,所述深沟槽区结构包括靠近所述掺杂层上表面的第一槽区以及与所述第一槽区下方相连通的第二槽区,所述第一槽区表面具有第一厚度的第一氧化层,所述第二槽区表面具有第二厚度的第二氧化层,其中,所述第一槽区的宽度小于所述第二槽区的宽度,且所述第二厚度大于所述第一厚度;3)于所述深沟槽区结构内沉积导电材料以形成深沟槽电极;4)于所述深沟槽电极之间的所述掺杂层内制作沟槽栅区结构,且所述沟槽栅区结构与所述深沟槽电极之间具有预设间距;5)于所述第一导电类型的掺杂层的表面形成第二导电类型层;6)于所述第二导电类型层的表面形成第一导电类型层;7)于步骤6)所得到结构表面形成隔离层,并刻蚀所述隔离层以露出所述深沟槽电极以及欲制备源区接触电极的区域,然后沉积金属材料以形成上电极;8)减薄所述第一导电类型的半导体衬底,然后沉积金属材料以形成下电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡同方微电子有限公司,未经无锡同方微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710325675.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top