[发明专利]软件缺陷检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710326018.4 申请日: 2017-05-10
公开(公告)号: CN107247662B 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 杨春晖;高岩;李冬 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 黄晓庆
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种软件缺陷检测方法及装置,首先,获取待测软件,并提取待测软件对应的各度量特征值获得待测软件对应的度量特征值向量,根据缺陷样本软件对应的各缺陷等级分类中的缺陷样本软件的度量特征值向量,分别计算待测软件对应的度量特征向量到各缺陷等级分类的距离,根据各距离,计算待测软件对应的缺陷度量值,根据各距离中的最小距离对应的缺陷等级分类,对待测软件的缺陷度量值进行归一化处理,获得待测软件的缺陷检测结果。基于上述方案,可提高待测软件的缺陷检测结果的准确性。
搜索关键词: 软件 缺陷 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种软件缺陷检测方法,其特征在于,包括如下步骤:获取待测软件,并提取所述待测软件对应的各度量特征值,根据各度量特征值组成所述待测软件对应的度量特征值向量,各度量特征值包括代码长度的值、注释行数的值、操作符数的值、圈复杂度的值、内聚缺乏度的值以及继承树的深度的值中的一种或几种;根据缺陷样本软件对应的各缺陷等级分类中的所述缺陷样本软件的度量特征值向量,分别计算所述待测软件对应的度量特征值向量到各所述缺陷等级分类的距离,各所述距离用于表征所述待测软件对应的度量特征值向量与各所述缺陷等级分类的相似度;根据各所述距离,计算所述待测软件对应的缺陷度量值,所述缺陷度量值的计算公式如下:其中,D0为预设参数因子,dj为待测软件到第i个缺陷等级分类的距离,dj为待测软件到第j个缺陷等级分类的距离,ClassNum为缺陷等级分类的数量;根据各所述距离中的最小距离对应的所述缺陷等级分类,对所述待测软件的缺陷度量值进行归一化处理,获得所述待测软件的缺陷检测结果。
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