[发明专利]高维空间自适应采样方法及真实感图像绘制方法在审
| 申请号： | 201710329440.5 | 申请日： | 2017-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN107248189A | 公开（公告）日： | 2017-10-13 |
| 发明（设计）人： | 邱春芳;武博;龚丹丹;王凌 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所 |
| 主分类号： | G06T15/06 | 分类号： | G06T15/06;G06T15/20;G06T15/50 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及高维空间自适应采样方法及真实感图像绘制方法，高维空间自适应采样方法包括初始稀疏采样和自适应采样，其特征在于，所述自适应采样中，在生成候选采样点时，将采样空间放大到原始的对应的KD‑Tree节点的包围盒的N倍，N＞1；所述初始稀疏采样中，采用自适应尺度估计技术在不同维度上分布采样点。本发明能消除分割面失真，且实用性强，可得到真实感图像。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 自适应 采样 方法 真实感 图像 绘制 | ||
【主权项】：
高维空间自适应采样方法，包括初始稀疏采样和自适应采样，其特征在于，所述自适应采样中，在生成候选采样点时，将采样空间放大到原始的对应的KD‑Tree 节点的包围盒的N倍，N＞1。
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