[发明专利]一种基于分子光谱分析的定量模型评估方法和系统在审

专利信息
申请号: 201710330712.3 申请日: 2017-05-11
公开(公告)号: CN107273656A 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 刘彤;潘涛;曾永平;肖青青;沈鸿平;凌亚东 申请(专利权)人: 广州讯动网络科技有限公司
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)44288 代理人: 蔡碧慧,邓星文
地址: 510000 广东省广州市天河区中*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于分子光谱分析的定量模型评估方法和系统,其中,基于分子光谱分析的定量模型评估方法,包括,对定量模型的样本数量进行评估的步骤;对定量模型的模型准确性进行评估的步骤;对定量模型的模型相关性进行评估的步骤;对定量模型的模型代表性进行评估的步骤;基于样本数量、模型准确性、模型相关性和模型代表性的评估结果对定量模型进行评分,对评分结果进行分析,完成分子光谱分析的步骤。基于分子光谱分析的定量模型评估系统,包括样本数量评估模块;模型准确性评估模块;模型相关性评估模块;模型代表性评估模块;定量模型评分模块;以及评分结果分析模块。实现简单快速的得出分析结果及综合考虑到评估方法全面性的优点。
搜索关键词: 一种 基于 分子 光谱分析 定量 模型 评估 方法 系统
【主权项】:
一种基于分子光谱分析的定量模型评估方法,其特征在于:包括,对定量模型的样本数量进行评估的步骤;对定量模型的模型准确性进行评估的步骤;对定量模型的模型相关性进行评估的步骤;对定量模型的模型代表性进行评估的步骤;基于上述样本数量、模型准确性、模型相关性和模型代表性的评估结果对定量模型进行评分,并对评分结果进行分析,从而完成分子光谱分析的步骤。
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