[发明专利]一种仪表刻度线位置自动检测方法有效
| 申请号： | 201710330896.3 | 申请日： | 2017-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN107240109B | 公开（公告）日： | 2020-03-17 |
| 发明（设计）人： | 邓宏平;汪俊锋;韩钰;刘罡 | 申请（专利权）人： | 安徽慧视金瞳科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/13 | 分类号： | G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/70;G01B11/24;G01B11/27 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人： | 金凯 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市黄*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明属于仪表检测技术领域，具体涉及一种仪表刻度线位置自动检测方法，具体包括亮刻度仪表和暗刻度仪表的判别，针对判别之后的亮刻度仪表或暗刻度仪表分别采用相应的办法进行刻度线的检测，之后计算刻度线在刻度仪表中相对刻度仪表圆心的位置，实现刻度线位置的自动检测。本发明采用的自动化策略实现了刻度仪表刻度线位置的自动检测，具有高效方便准确率高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 仪表 刻度 位置 自动检测 方法 | ||
【主权项】：
一种仪表刻度线位置自动检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)、通过对二值化刻度仪表图像的最大连通域尺寸分析以及亮度直方图分析判断待分析刻度仪表属于亮刻度仪表还是暗刻度仪表：具有圆盘连通区域的为暗刻度仪表，没有的为亮刻度仪表；亮度直方图偏向高亮度方向的是暗刻度仪表，亮度直方图偏向低亮度方向的是亮刻度仪表；2)、依据亮刻度仪表中刻度线的形状、尺寸特征进行刻度线提取，之后根据刻度线的空间分布特点对提取到的刻度线进行验证和补漏，得到亮刻度仪表中刻度线；3)、依据暗刻度仪表刻度线、表盘外轮廓、表盘内轮廓为暗刻度盘为亮圆的特点，进行图像处理以及刻度线的提取，并根据刻度线空间分布特点进行提取刻度线验证，得到暗刻度仪表中刻度线，实现暗刻度仪表中刻度线的检测刻度线检测；4)、针对亮刻度仪表和暗刻度仪表中的刻度线，计算相对于刻度仪表中心的角度值。
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