[发明专利]一种基于二维激光扫描仪角点特征的闭环检测方法在审

专利信息
申请号: 201710331979.4 申请日: 2017-05-11
公开(公告)号: CN107316328A 公开(公告)日: 2017-11-03
发明(设计)人: 于慧敏;黎睿 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G06T7/60 分类号: G06T7/60
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司33200 代理人: 张法高,傅朝栋
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种新颖的基于二维扫描仪角点特征的闭环检测方法,旨在减小二维点云地图创建过程中的累积误差。方法首先利用二维点云的角点特征来生成单帧点云的签名,该签名具有旋转不变性的特征,并利用点云签名之间的相似性来衡量点云之间的相似性。同时给出了一种基于点云角点特征之间几何结构的相对位姿计算方法,该方法具有相对位姿计算结果精度高的优点。利用得到的相似帧之间的相对位姿来构建图模型,对图模型进行优化,最后输出优化后的点云全局位姿信息完成闭环检测。该方法有效地减少了二维点云地图创建过程中的累积误差,大大提高了二维点云地图的质量。
搜索关键词: 一种 基于 二维 激光 扫描仪 特征 闭环 检测 方法
【主权项】:
一种基于二维激光扫描仪角点特征的闭环检测方法,其特征在于利用从二维激光扫描仪获得的二维点云数据中提取出的角点特征F,对二维点云数据C进行以下步骤处理:步骤1:利用提出得到的二维点云角点特征F,生成二维点云C的签名,该签名具有旋转不变性的特征;根据两帧点云签名之间的欧氏距离来衡量两帧点云之间的相似性;步骤2:利用点云角点特征之间的几何结构来计算相似两帧点云之间的相对位姿,并用两帧点云之间的相对位姿构建图模型,对图模型进行优化后输出优化后的全局位姿。
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