[发明专利]粒度分析系统在审
| 申请号： | 201710332496.6 | 申请日： | 2017-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN108020492A | 公开（公告）日： | 2018-05-11 |
| 发明（设计）人： | 郭力;李霖;陈建红;林勇军;唐彦军 | 申请（专利权）人： | 北京华索科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种粒度分析系统，在控制装置的控制下，先通过取料装置实时获取待粒度分析区域的样本粉料，接着通过一次称重装置确定样本粉料的质量，紧接着通过粉料分离装置对样本粉料进行粗细分离处理以获取样本粉料的细粉，再接着通过二次称重装置确定细粉的质量，最后控制装置根据样本粉料的质量和细粉的质量确定粉料的粒度。本发明实施例提供的粒度分析系统能够在线实时且快速方便地对待粒度分析区域中的粉料进行粒度分析。 | ||
| 搜索关键词： | 粒度 分析 系统 | ||
【主权项】：
1.一种粒度分析系统,其特征在于,包括:机架、依次设置在所述机架上的取料装置、一次称重装置、粉料分离装置、二次称重装置以及对上述装置进行控制的控制装置；所述取料装置用于在所述控制装置的控制下实时获取样本粉料；所述一次称重装置用于在所述控制装置的控制下确定所述样本粉料的质量；所述粉料分离装置用于在所述控制装置的控制下对所述样本粉料进行粗细分离处理以获取所述样本粉料的细粉；所述二次称重装置用于在所述控制装置的控制下确定所述细粉的质量；所述控制装置用于根据所述样本粉料的质量和所述细粉的质量确定所述粉料的粒度。
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