[发明专利]甄别二氧化硅颗粒来源的方法有效
申请号: | 201710337801.0 | 申请日: | 2017-05-15 |
公开(公告)号: | CN107144624B | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 刘倩;杨学志;陆达伟;江桂斌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院生态环境研究中心 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种甄别二氧化硅颗粒来源的方法,根据不同来源的二氧化硅颗粒具有不同的硅和氧天然稳定同位素指纹特征,可以实现对天然来源和人为来源的二氧化硅颗粒进行有效甄别。此外,凝胶法、沉淀法和气相法三种不同工艺合成的二氧化硅颗粒具有不同的硅稳定同位素组成,因此可对不同工艺合成的二氧化硅颗粒进行来源甄别。 | ||
搜索关键词: | 甄别 二氧化硅 颗粒 来源 方法 | ||
【主权项】:
一种甄别二氧化硅颗粒来源的方法,包括如下步骤:1)样品采集并清洗、烘干选取适量待测二氧化硅样品,并用自来水和乙醇分别进行清洗,最后放于烘箱中在60℃~70℃烘干至恒重;2)稳定同位素比率测定稳定硅同位素测定:取10mg二氧化硅颗粒样品与200mg NaOH固体置于银坩埚中进行混合,之后放于马弗炉中在700℃下加热10min,冷却后加水10mL,超声2h,然后转移到50mL离心管中用稀盐酸调PH至2~3;然后,样品过阳离子柱纯化去除金属阳离子,之后进入多接收器电感耦合等离子体进行测定;稳定硅同位素比率用δ30Si(‰)表示,δ30Si(‰)的相对标准为NISTSRM‑8546,计算公式为:稳定氧同位素比率:在BrF5法实验装置中,二氧化硅颗粒在600℃中与BrF5反应生成SiF4和O2,提取出O2,在石墨炉中转化成二氧化碳,并将二氧化碳用液氮冷冻收集入样品管,最后将CO2样品送进稳定同位素质谱仪进行测试;稳定氧同位素比率用δ18O(‰)表示,δ18O(‰)的标准物质为SMOW(标准平均海洋水),计算公式为:3)判断二氧化硅颗粒的来源;若δ30Si(‰)<0.08,δ18O(‰)>14.6,则此样品属于人工合成二氧化硅颗粒,否则属于天然二氧化硅颗粒。
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