[发明专利]一种电路设计的移植方法和系统有效

专利信息
申请号: 201710339898.9 申请日: 2017-05-15
公开(公告)号: CN108875106B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 吴玉平;陈岚;郭叶 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G06F30/39 分类号: G06F30/39
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 党丽;王宝筠
地址: 100029 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例公开了一种电路设计的移植方法及系统,获得第一工艺的电路设计中的各节点的电压波形以及各支路的电流波形这些电学性能参数,并将第一工艺的电路设计划分为多个子电路,以子电路为工艺移植对象,通过建立对应的第二工艺子电路及测试电路,并以第一工艺的电路设计的电学性能参数为优化目标,确定第二工艺子电路中的器件参数,实现第二工艺的电路设计的移植。该方法以各子电路为工艺移植对象,大大缩小了移植中解空间的探索,从而加速了电路设计的工艺移植,提高了设计效率,且可以自动化实现。
搜索关键词: 一种 电路设计 移植 方法 系统
【主权项】:
1.一种电路设计的移植方法,其特征在于,包括:S01,对第一工艺的电路设计进行测试电路的仿真,获得预设激励波形下第一工艺的电路设计中各节点的电压波形以及各支路的电流波形;S02,将所述第一工艺的电路设计划分为多个第一工艺子电路,后一级第一工艺子电路的输入电流为前一级第一工艺子电路的输出电流;S03,根据第一工艺子电路中各节点的电压波形以及各支路的电流波形,获得第一工艺子电路的等效参数;S04,将第一工艺子电路中的器件单元替换为第二工艺对应的器件单元,以获得对应于第一工艺子电路的第二工艺子电路;S05,根据第一工艺子电路中各节点的电压波形以及各支路的电流波形,以及后一级第一工艺子电路的等效参数,分别为相应的第二工艺子电路构建激励源和后级等效电路参数,以获得第二工艺子电路的测试电路;S06,进行第二工艺子电路的参数优化,第二工艺子电路的参数优化包括:基于优化算法确定第二工艺子电路中的器件参数,并在所述预设激励波形下,进行第二工艺子电路的测试电路的仿真,获得第二工艺子电路中各节点的电压波形以及各支路的电流波形,以第一工艺子电路中各节点的电压波形以及各支路的电流波形为优化目标,以获得参数优化后的第二工艺子电路;S07,将参数优化后的各第二工艺子电路进行拼接,以获得第二工艺的电路设计。
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