[发明专利]用于处理两层介质的多偏移距绕射叠加的成像方法有效
| 申请号： | 201710340756.4 | 申请日： | 2017-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN107153190B | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 李玉喜;沈绍祥;周斌;方广有;纪奕才 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01S13/89 | 分类号： | G01S13/89 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于处理两层介质的多偏移距绕射叠加的成像方法，包括：将探测区域离散网格化，分成M*N个网格，每个网格作为一个子波源，其中M、N为正整数；对于第i个子波源，从预处理后的标准化探测仪数据集中确定该子波源被每个接收天线接收到的能量，获得该子波源在每帧数据中对应的能量，其中i＝1，2，……，M*N；对于第i个子波源，将该子波源在每帧数据中的能量按照帧数进行叠加，获得该子波源的总能量；以及遍历M*N个子波源，从而获得整个探测区域的地质情况进行成像。通过采用偏移成像中的绕射叠加方法，适用于具有一定高度、多偏移距、多输入多输出的雷达成像要求，且成像清晰，同时对于处理非均质、分层介质具有良好的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 处理 介质 偏移 距绕射 叠加 成像 方法 | ||
【主权项】：
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