[发明专利]绑定区域导电粒子压合检测方法在审
| 申请号： | 201710341994.7 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN107144602A | 公开（公告）日： | 2017-09-08 |
| 发明（设计）人： | 方珊 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司11372 | 代理人： | 吴大建,张杰 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种绑定区域导电粒子压合检测方法，包括在第一印制电路板的电极所在位置一侧预留检测区域，电极位于第一印制电路板与第二印制电路板的绑定区域内；第二印制电路板上设置有连接器，连接器的第一端位于绑定区域内，且与电极绑定；在检测区域内设置与电极一一对应连接的检测点；利用检测装置对检测点、电极、连接器构成的回路进行测量。本发明提供的绑定区域导电粒子压合检测方法，通过在绑定区域一侧预留检测区域，并在检测区域内设置与电极一一对应的检测点，通过检测装置对检测点、电极、连接器构成的回路进行测量，可以精确的对每根电极进行测量，提高了对绑定区域导电粒子压合不良的检出能力，降低了漏检风险。 | ||
| 搜索关键词： | 绑定 区域 导电 粒子 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种绑定区域导电粒子压合检测方法，其特征在于，包括：在第一印制电路板的电极所在位置一侧预留检测区域，使所述电极位于所述第一印制电路板与第二印制电路板的绑定区域内，并使在所述第二印制电路板上设置的连接器的第一端位于所述绑定区域内且与所述电极绑定；在所述检测区域内设置与所述电极一一对应连接的检测点；利用检测装置对所述检测点、所述电极、所述连接器构成的回路进行测量。
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