[发明专利]基于二进制向量的测试设备有效
| 申请号： | 201710342176.9 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN107391322B | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 尹柱盛;申圣燮;李文镐;崔云燮 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽;张婧 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测试设备，包括被测装置(DUT)和测试控制器，其中被测装置被配置为使用串行接口协议来交换数据，测试控制器被配置为从外部装置接收对应于串行接口协议的物理层的二进制向量并缓冲和发送接收的二进制向量至DUT。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 二进制 向量 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种测试设备，包括：被测装置(DUT)，被配置为使用串行接口协议交换数据；以及测试控制器，被配置为从外部装置接收对应于串行接口协议的物理层的二进制向量，并且缓冲和发送接收的二进制向量至所述被测装置(DUT)。
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