[发明专利]用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置及方法

摘要

本发明公开了用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置及方法；所述装置包括发射装置、被测样品、参考样品、接收装置和平移机构，且发射装置和接收装置位于所述被测样品和/或参考样品的同一侧，所述发射装置和接收装置的位置可互换；发射装置包括光源、第一狭缝和透镜，所述接收装置包括积分球、第二狭缝和驱动机构；驱动机构用于驱动接收装置中的积分球移动，或者第二狭缝移动，或者发射装置中的光源移动，调控进入所述积分球的光束量。本发明在被测样品在无需翻面的情况下，即可测得所述被测样品两侧的反射比以及被测样品的透射比；本发明能够同时测量所述非漫射平板材料的透射比和两侧的反射比，测量步骤少、操作简单、测量时间缩短。

主权项

1.一种用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置，其特征在于，包括发射装置、被测样品、参考样品、接收装置和平移机构，所述发射装置或者接收装置处于所述平移机构上，且所述发射装置和接收装置位于所述被测样品和/或参考样品的同一侧，所述发射装置和接收装置的位置可互换；所述被测样品与发射装置之间的距离小于所述参考样品与发射装置之间的距离；所述发射装置包括光源、第一狭缝和透镜，所述光源用于提供光束，所述透镜用于对所述光束进行准直聚焦；所述接收装置包括积分球、第二狭缝和驱动机构，所述积分球用于收集进入其内部的所有光束；所述第二狭缝位于所述积分球的入口处；所述驱动机构用于驱动接收装置中的积分球移动，或者驱动所述发射装置中的光源移动，或者驱动所述第二狭缝移动，进而调控进入所述积分球的光束量；对于所述被测样品，面向所述发射装置的那一面为被测样品光源面，与被测样品光源面相对的那一面为被测样品光源反面；对于所述参考样品，面向所述被测样品的那一面为参考样品光源面，与被测样品光源面相对的那一面为参考样品光源反面；在放置的样品只有参考样品的情况下，光束从所述光源投射至参考样品上，经所述参考样品光源面和参考样品光源反面反射后，进入所述积分球，所述积分球得到的光束对应的光强度为初始光强度；第一光强度、第二光强度和第三光强度均是在被测样品和参考样品同时存在的情况下进行获得的，所述第一光强度为光束从光源发出，直接投射在被测样品上，经所述被测样品光源面和被测样品光源反面反射，进入所述积分球的光束所对应的光强度；所述第二光强度为光束从光源发出，经所述被测样品光源面和被测样品光源反面透射后，投射在参考样品上；经所述参考样品光源面和参考样品光源反面反射后，从所述被测样品光源反面和被测样品光源面透射出，进入所述积分球的光束所对应的光强度；所述第三光强度为光束从光源发出，经所述被测样品光源面和被测样品光源反面透射后，投射在参考样品上；经所述参考样品光源面和参考样品光源反面反射至被测样品上，又经所述被测样品光源反面和被测样品光源面反射后投射在所述参考样品上；再经所述参考样品光源面和参考样品光源反面反射后，从所述被测样品光源反面和被测样品光源面透射，进入所述积分球的光束所对应的光强度；利用所述装置进行测量方法，包括：在放置的样品只有参考样品的情况下，获取初始光强度ΦS；在被测样品和参考样品同时存在的情况下，获取第一光强度Φ1、第二光强度Φ2和第三光强度Φ3；根据初始光强度ΦS、第一光强度Φ1，以及已知的参考样品光源侧的反射比ρS，得到所述被测样品光源侧的反射比ρf；利用初始光强度ΦS和第二光强度Φ2得到被测样品的透射比τ；通过第二光强度Φ2、第三光强度Φ3以及参考样品光源侧的反射比ρS得到所述被测样品光源反侧的反射比ρg。