[发明专利]磁环的来料检验方法在审
| 申请号： | 201710345677.2 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN107270962A | 公开（公告）日： | 2017-10-20 |
| 发明（设计）人： | 何保明 | 申请（专利权）人： | 浦北县富通电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)11357 | 代理人： | 魏忠晖 |
| 地址： | 535300 广西壮族自治*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明提供一种磁环的来料检验方法，包括以下步骤目测磁环有无变形、破裂、结晶体等；尺寸根据规格要求，用卡尺测量出磁环的内径、外径和高，并记录下来；参数稳定性在抽选的磁环绕上相同匝数的铜芯线，记取每个磁环常温下的参数值并标识，放入烘箱内，并将铜芯线伸出烘箱外，最后用万用表测量每个磁环在温度变化5‑10℃下参数值；另外抽选部分磁环，置入烘箱中，加温到100℃恒定4小时，恢复至常温后用磁性分选仪测量其参数值；将抽检情况记录在来料检验报告表上，并判定允收或退货。本发明特地制定磁环的来料检验方法，利用烘箱升温来测量抽选的磁环以观察其参数稳定性，进一步地加强品质监督，提高供货质量，促使生产效率提高。 | ||
| 搜索关键词： | 来料 检验 方法 | ||
【主权项】：
一种磁环的来料检验方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1：目测：磁环有无变形、破裂、结晶体等；步骤2：尺寸：根据规格要求，用卡尺测量出磁环的内径、外径和高，并记录下来；步骤3：参数稳定性：首先在抽选的磁环绕上相同匝数的铜芯线，再记取每个磁环常温下的参数值并在磁环上贴上标识，把磁环都放入烘箱内，并将磁环上的铜芯线伸出烘箱外，最后用万用表测量每个磁环在温度变化5‑10℃下参数值；步骤4：另外抽选部分磁环，置入烘箱中，加温到100℃恒定4小时，恢复至常温后用磁性分选仪测量其参数值；步骤5：将抽检情况记录在来料检验报告表上，并判定允收或退货。
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