[发明专利]图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置和方法有效

专利信息
申请号: 201710349650.0 申请日: 2017-05-17
公开(公告)号: CN107192455B 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 张淳民;权乃承;穆廷魁 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01J3/447 分类号: G01J3/447
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 刘强
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置及方法,该装置沿入射光线的主光轴从左到右依次设有望远系统、消色差四分之一波片、延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、延迟器、检偏器、成像镜及CCD探测器。所述望远系统由第一透镜、视场光阑和第二透镜组成;所述视场光阑设置于第一透镜和第二透镜之间的主光轴上。本发明可以通过单次测量获取与仪器光谱分辨率一致的强度光谱与全部的线偏振光谱信息,较传统通道光谱偏振技术使复原的强度光谱与线偏振光谱均不受串扰的影响,复原结果更加精确并且光谱分辨率了提高3‑7倍。
搜索关键词: 图像 高分辨率 强度 光谱 偏振 探测 装置 方法
【主权项】:
1.一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置,其特征在于,沿入射光线的主光轴从左到右依次设有用于准直的望远系统(1)、消色差四分之一波片(2)、第一延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第二延迟器(6)、检偏器(7)、成像镜(8)及CCD探测器(9);入射光经望远系统(1)准直后变为平行光,平行光依次通过消色差四分之一波片(2)、第一延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第二延迟器(6)、检偏器(7)和成像镜(8),最终在CCD探测器(9)上获取到两幅双通道干涉图,构建满足右手定则的xyz坐标系,主光轴为z轴,所述消色差四分之一波(2)的快轴方向与x轴正向的夹角为0°;所述第一延迟器(3)的快轴方向与x轴正向的夹角为45°;Wollaston棱镜(4)的光轴分别位于yz与xz平面,光轴均与z轴垂直,第二延迟器(6)的快轴方向与x轴正向的夹角为45°;检偏器(7)的透振方向与y轴平行,CCD探测器(9)的感光面位于成像镜(8)的后焦面处。
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