[发明专利]激光位移展示系统及测量系统有效
申请号: | 201710349804.6 | 申请日: | 2017-05-17 |
公开(公告)号: | CN106997046B | 公开(公告)日: | 2023-08-11 |
发明(设计)人: | 徐湘涛;黄秋香;高涌涛;周禹熹;李云 | 申请(专利权)人: | 成都理工大学 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 苏胜 |
地址: | 610000 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明实施例提供一种激光位移展示系统及测量系统。该激光位移展示系统包括:用于采集待测物体的位移信号的多个激光位移传感器;与多个激光位移传感器电性连接,用于对位移信号进行信号处理,得到与位移信号对应的位移数据的处理设备;以及与处理设备通信连接,用于向处理设备发送控制指令,以使处理设备根据控制指令对激光位移传感器进行控制,以及用于将处理设备处理后的位移数据进行显示的用户终端。本发明提供的技术方案能够根据实际的测量需求对激光位移传感器设定不同的测量条件对待测物体进行测量,并且能够对测量的待测物体的位移变化数据进行实时显示。 | ||
搜索关键词: | 激光 位移 展示 系统 测量 | ||
【主权项】:
一种激光位移展示系统,其特征在于,所述激光位移展示系统包括:用于采集待测物体的位移信号的多个激光位移传感器;与所述多个激光位移传感器电性连接,用于对所述位移信号进行信号处理,得到与所述位移信号对应的位移数据的处理设备;与所述处理设备通信连接,用于向所述处理设备发送控制指令,以使所述处理设备根据所述控制指令对所述激光位移传感器进行控制,以及用于将所述处理设备处理后的位移数据进行显示的用户终端;其中,所述控制指令包括用于对所述激光位移传感器的工作参数进行控制的第一控制指令以及用于对激光位移传感器的比例参数和偏移参数进行控制的第二控制指令,所述工作参数包括采集时间、采集初始时刻、运作状态中的至少一种,所述位移数据包括最大位移数据、最小位移数据以及实时位移数据。
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