[发明专利]一种抗电路参数漂移的高精度电阻测量方法

摘要

本发明涉及一种抗电路参数漂移的高精度电阻测量方法，在电桥电路中，给待测电阻所在的支路上分别接入三个精确标定阻值已知的低温飘精密电阻，对接入三个低温飘精密电阻的电桥电路输出值分别进行测量，根据三组测量值和三个低温飘精密的电阻值计算电桥电路的参数，最后接入待测电阻，通过电路参数和待测电阻的测量数据计算出待测电阻的实际阻值。本发明的电阻测量方法在实际解算过程中无需关心测量电路的参数，最终解算结果仅与三个低温飘精密电阻在当前环境和电路元件参数下的测量值有关，因而测量电路的测量精度仅与三个低温飘精密电阻的稳定性有关；通过精心筛选和精密标定这三个低温飘精密电阻，即可获得待测电阻的高精度低温飘电阻值。

主权项

1.一种抗电路参数漂移的高精度电阻测量方法，其特征在于：在电桥电路中，给待测电阻所在的支路上分别接入三个精确标定阻值已知的低温漂精密电阻，对接入三个低温漂精密电阻的电桥电路输出值分别进行测量，根据三组测量值和三个低温漂精密的电阻值计算电桥电路的参数，最后接入待测电阻，通过电路参数和待测电阻的测量数据计算出待测电阻的实际阻值；具体的，由下述公式：可知，在测量被测电阻R_t前，先测量三个已知的低温飘精密电阻R_f1、R_f1和R_f1的电压值D_f1、D_f2和D_f3，通过该三值，即可得到测量电路的输入输出函数R(Dt)中的关键参数；由于该参数仅与三个低温飘精密电阻R_f1、R_f1和R_f1的测量值D_f1、D_f2和D_f3有关，可以计算出电路的参数：A、B、C，因此整个电路的漂移特性将仅与所选三个低温飘精密电阻的漂移特性有关；最后通过确定的参数A、B、C计算待测电阻R_t的阻值即可；如下式所示：