[发明专利]一种用于两相流分层界面形态测量的平行线阵列传感系统在审

专利信息
申请号: 201710350929.0 申请日: 2017-05-17
公开(公告)号: CN107271333A 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 翟路生;鄢聪;张宏鑫;金宁德 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N13/00 分类号: G01N13/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种用于两相流分层界面形态测量的平行线阵列传感系统,用于测量具有电导率差异的两相流的分层界面形态,包括水平测量管道、固定件和平行线阵列传感器,其特征在于,固定件与水平测量管道固定连接,平行线阵列传感器包括两组平行线电极,一组分布在上游的同一个管道横截面上,均作为激励电极,另一组分布在下游的同一个管道横截面上,均作为接收电极,位置相对的激励电极和接收电极构成一对线电极,各个电极固定在固定件上并穿过水平测量管道。
搜索关键词: 一种 用于 两相 分层 界面 形态 测量 平行线 阵列 传感 系统
【主权项】:
一种用于两相流分层界面形态测量的平行线阵列传感系统,用于测量具有电导率差异的两相流的分层界面形态.包括水平测量管道、固定件和平行线阵列传感器,其特征在于,固定件与水平测量管道固定连接,平行线阵列传感器包括两组平行线电极,一组分布在上游的同一个管道横截面上,均作为激励电极,另一组分布在下游的同一个管道横截面上,均作为接收电极,位置相对的激励电极和接收电极构成一对线电极,各个电极固定在固定件上并穿过水平测量管道。
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