[发明专利]拼接天线非可视部位结构间隙测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201710355315.1 | 申请日： | 2017-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN106989684B | 公开（公告）日： | 2019-05-28 |
| 发明（设计）人： | 陈晓峰;刘子仙;钟鸣;邢健;程庆清;梁宝柱;张利平;周鑫 | 申请（专利权）人： | 上海宇航系统工程研究所 |
| 主分类号： | G01B11/14 | 分类号： | G01B11/14 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 金家山 |
| 地址： | 201108 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明的拼接天线非可视部位结构间隙测量装置及测量方法，在天线侧板框架上设置侧板天线测量基准，在天线中板框架上设置中板天线测量基准，在侧板天线测量基准和中板天线测量基准上均粘贴测量靶标；在星体的正前方布置测量仪测量测量靶标；利用基准面与测量面间的固定关系将不可视部位的间隙转换到基准面上，再利用常规测试手段进行间隙测量；同时，通过基准面的三向正交设计，与天线的90°展开关联，通过收拢状态测量被测面的正交基准面实现预测天线展开到位后的间隙的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 拼接 天线 可视 部位 结构 间隙 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.拼接天线非可视部位结构间隙测量装置，其特征在于，包括侧板天线测量基准、中板天线测量基准和测量仪；在天线侧板框架的上平面上至少设置两个所述侧板天线测量基准，在天线中板框架的上平面上至少设置两个所述中板天线测量基准，在天线收拢折叠及展开到位状态下，所述侧板天线测量基准和中板天线测量基准均处于可视部位；在所述侧板天线测量基准和中板天线测量基准上均粘贴有测量靶标；所述测量仪位于星体的正前方，在天线收拢折叠及展开到位状态下，所述测量仪对所述侧板天线测量基准和中板天线测量基准上的测量靶标的空间位置进行测量。
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