[发明专利]辐照实验板、监控终端、ASIC芯片辐照实验系统有效
| 申请号： | 201710358913.4 | 申请日： | 2017-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN108957283B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 姜文奇;苏孟豪 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 宋扬;刘芳 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种辐照实验板、监控终端、ASIC芯片辐照实验系统，其中，ASIC芯片辐照实验系统包括：监控终端、辐照实验板和智能电源，监控终端用于进行辐照实验的过程控制和数据显示；辐照实验板用于放置待测的ASIC芯片，根据监控终端发送的测试命令对ASIC芯片进行辐照实验测试，并将测试结果发送给监控终端；智能电源用于根据监控终端发送的电源控制命令对辐照实验板进行供电控制，并将根据监控终端发送的采集命令所采集到的ASIC芯片的各电压域的电压和电流数据发送给监控终端。本发明提供的技术方案，实现了对ASIC芯片的抗辐照实验及自动化控制。 | ||
| 搜索关键词： | 辐照 实验 监控 终端 asic 芯片 系统 | ||
【主权项】：
1.一种辐照实验板，应用于专用集成电路ASIC芯片辐照实验系统，所述辐照实验板分别与所述系统中的监控终端和智能电源连接，其特征在于，包括：辐照区域和控制区域；所述辐照区域，用于放置所述ASIC芯片；所述控制区域包括：微控制单元MCU、通信接口、测试存储器和配置存储器，所述MCU分别与所述通信接口、所述测试存储器和所述配置存储器连接；所述MCU，用于通过所述通信接口接收所述监控终端发送的测试命令，根据所述测试命令对所述ASIC芯片进行辐照实验测试，并通过所述通信接口将测试结果发送给所述监控终端；所述测试存储器，用于存储测试所述ASIC芯片的测试程序和所述MCU的启动配置信息；所述配置存储器，用于存储配置所述MCU的配置程序。
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