[发明专利]存储器的测试方法及装置、存储介质和测试终端有效
| 申请号： | 201710360835.1 | 申请日： | 2017-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN107240421B | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 张若成;钱亮;杨光军 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张振军;吴敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种存储器的测试方法及装置、存储介质和测试终端，所述存储器包括主阵列和冗余阵列，所述存储器的测试方法包括：控制所述存储器将所述冗余阵列的地址映射至所述主阵列的地址空间中未被占用的地址；在所述主阵列的地址空间中，发送测试向量至所述存储器，以使得所述主阵列和冗余阵列执行所述测试向量中的测试项。采用本发明技术方案可以有效地提高存储器的测试效率和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
一种存储器的测试方法，所述存储器包括主阵列和冗余阵列，其特征在于，所述测试方法包括：控制所述存储器将所述冗余阵列的地址映射至所述主阵列的地址空间中未被占用的地址；在所述主阵列的地址空间中，发送测试向量至所述存储器，以使得所述主阵列和冗余阵列执行所述测试向量中的测试项。
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