[发明专利]一种冷冻低波数拉曼光谱测试系统及其测试方法有效
申请号: | 201710367332.7 | 申请日: | 2017-05-23 |
公开(公告)号: | CN107091828B | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 谢黎明;刘海宁 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 巩克栋 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明提供了一种冷冻低波数拉曼光谱测试系统及其测试方法,所述系统包括样品腔、激光光源、光谱检测器、恒温器、抑制放大自发辐射滤光片、分光片、低波数陷波滤光片组和聚焦透镜,其中所述恒温器与样品腔相连,所述样品腔中内置显微物镜,显微物镜聚焦来自激光光源的激光于样品腔内的样品上激发拉曼光谱信号,并将拉曼光谱信号收集后送至光谱检测器;所述显微物镜和光谱检测器之间的光路上,由显微物镜向光谱检测器一侧依次设置分光片、低波数陷波滤光片组和聚焦透镜,在激光光源至分光片的光路上设置抑制放大自发辐射滤光片。本发明可以实现在冷冻环境(≥5K)下测量低波数下限到10cm |
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搜索关键词: | 一种 冷冻 低波数拉曼 光谱 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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