[发明专利]集成电路以及形成集成电路的方法在审

专利信息
申请号: 201710369660.0 申请日: 2017-05-23
公开(公告)号: CN107425001A 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 吴伟成;张健宏 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/11517 分类号: H01L27/11517;H01L27/11521;H01L27/11526
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 代理人: 章社杲,李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开涉及一种集成电路(IC)及其形成方法,其包括HKMG混合非易失性存储器(NVM)器件,其提供了小尺寸和高性能。在一些实施例中,集成电路包括存储区,存储区包括具有通过相应的浮置栅极与衬底隔开的一对控制栅电极的NVM器件。一对选择栅电极设置在一对控制栅电极的相对侧处并且包括多晶硅。逻辑区邻近存储区设置并且具有逻辑器件,逻辑器件具有金属栅电极,金属栅电极设置在逻辑栅极电介质上方并且具有由高k栅极介电层所覆盖的底部表面和侧壁表面。
搜索关键词: 集成电路 以及 形成 方法
【主权项】:
一种集成电路(IC),包括:存储区,所述存储区包括具有通过相应的浮置栅极与衬底隔开的一对控制栅电极的非易失性存储器(NVM)器件,其中,一对选择栅电极设置在所述一对控制栅电极的相对侧处并且包括多晶硅;以及逻辑区,所述逻辑区邻近所述存储区设置并且包括逻辑器件,所述逻辑器件包括金属栅电极,所述金属栅电极设置在逻辑栅极电介质上方并且具有由高k栅极介电层所覆盖的底部表面和侧壁表面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710369660.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top