[发明专利]一种贵金属制品的快速检测方法有效
| 申请号： | 201710374635.1 | 申请日： | 2017-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN106959313A | 公开（公告）日： | 2017-07-18 |
| 发明（设计）人： | 杨佩;高亚伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市金质金银珠宝检验研究中心有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01B17/02 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所44242 | 代理人： | 冯筠 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市罗湖区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种贵金属制品的快速检测方法，本发明是一种贵金属制品的快速检测方法采用X射线荧光光谱仪检测被测样品表层的主要成分及成分含量初步判断被测样品是否合格，再进一步的利用超声波测厚仪对被测样品进行检测，通过超声波测厚仪发出的超声波脉冲到达被测样品的第一个物质界面并反射回超声波测厚仪所消耗的时间，以计算出被测样品测试点与第一个物质界面之间的厚度值d2，与游标卡尺测得的被测样品的厚度值进行比较，若满足|d2/d1‑1|*100％≤5％，即可判断被测样品合格。本方法可无损、快速、准确、便捷的检测出被测样品是否合格，对于大型检验中心在检验任务较多的情况下，可大大提高工作效率，减低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 贵金属 制品 快速 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种贵金属制品的快速检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S10、设定X射线荧光光谱仪的工作条件，将被测样品置于X射线荧光光谱仪的检测台上，检测被测样品表层的主要成分及成分含量；S20、将被测样品表层多个检测点测得的被测样品数据取平均值与被测样品的标称值数据进行比较，若满足标准值下限要求，则进行下一步检测，否则，停止检测，判断被测样品不合格；S30、采用量尺测出被测样品测试点两相对表面的厚度值d1；S40、设定超声波测厚仪的工作条件，通过超声波测厚仪发出的超声波脉冲到达被测样品的第一物质界面并反射回超声波测厚仪所消耗的时间，以计算出被测样品测试点与第一个物质界面之间的厚度值d2。S50、将d1与d2进行对比，若符合|d2/d1‑1|*100％≤5％，则被测样合格，否则，被测样品不合格。
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