[发明专利]一种基于张量光谱匹配滤波的高光谱图像目标检测方法有效

专利信息
申请号: 201710374790.3 申请日: 2017-05-24
公开(公告)号: CN107038436B 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 谷延锋;刘永健 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06T17/00
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 杨立超
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种基于张量光谱匹配滤波的高光谱图像目标检测方法,本发明涉及涉及高光谱图像的目标检测。本发明的目的是为了解决现有高光谱图像目标检测方法中不能从三维数据整体进行信息挖掘,检测精度低的问题。过程为:一:建立张量表示下的目标和背景的信号表示模型;二:基通过给定的窗口大小,将待检测的高光谱图像转换成三阶张量的形式,建立基于局部邻域的空X‑空Y‑光谱‑样本四阶张量4D;三:求取4D的空X、空Y、光谱三个方向的协方差矩阵;四:得到映射后的新的三阶张量;五:分别计算目标光谱张量和空X‑空Y‑光谱三阶张量与映射后的新的三阶张量的内积,判定待检测高光谱图像的像元是否为检测目标。本发明用于数字图像处理领域。
搜索关键词: 一种 基于 张量 光谱 匹配 滤波 图像 目标 检测 方法
【主权项】:
一种基于张量光谱匹配滤波的高光谱图像目标检测方法,其特征在于:所述方法具体过程为:步骤一:建立张量表示下的目标和背景的信号表示模型;步骤二:基于步骤一得到的模型,通过给定的窗口大小,将待检测的高光谱图像转换成三阶张量的形式,得到待检测数据局部邻域的空X‑空Y‑光谱三阶张量,建立基于局部邻域的空X‑空Y‑光谱‑样本四阶张量步骤三:求取步骤二得到的基于局部邻域的空X‑空Y‑光谱‑样本四阶张量的空X、空Y、光谱三个方向的协方差矩阵;步骤四:对步骤三得到的三个方向上的协方差矩阵进行求逆,得到逆矩阵,利用得到的逆矩阵对待检测数据局部邻域的空X‑空Y‑光谱三阶张量进行张量子空间投影,得到映射后的新的三阶张量;步骤五:分别计算目标光谱张量和待检测数据局部邻域的空X‑空Y‑光谱三阶张量与映射后的新的三阶张量的内积,利用张量形式下的广义似然比检测模型和给定的阈值,判定待检测高光谱图像的像元是否为检测目标。
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