[发明专利]一种面向软件缺陷个数预测的特征选择方法有效
| 申请号： | 201710374939.8 | 申请日： | 2017-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN107239798B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 余啸;刘进;马子逸;崔晓晖;谷懿;井溢洋 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06F11/36 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 鲁力 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明针对软件缺陷数据集中不相关特征和冗余特征会降低软件缺陷个数预测模型的性能的问题，提出了一种面向软件缺陷个数预测的特征选择方法。首先利用特征与特征之间的关联性，对特征集进行谱聚类，将相互之间冗余度高的特征聚类到同一个簇中。在聚类的结果中，利用特征与软件缺陷个数之间的相关性，从每个簇中选出相关性最强的几个特征，这样既降低了特征之间的冗余度，又排除了不相关特征，得到最终的有益于缺陷个数预测模型性能的特征子集。本发明的技术方案具有简单、快速的特点，得到的特征子集有助于提高软件缺陷个数预测模型的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 软件 缺陷 个数 预测 特征 选择 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学，未经武汉大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710374939.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
