[发明专利]一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法在审
| 申请号： | 201710377432.8 | 申请日： | 2017-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN107219187A | 公开（公告）日： | 2017-09-29 |
| 发明（设计）人： | 颜识涵;汤明杰;魏东山 | 申请（专利权）人： | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 400714 *** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法，其步骤如下。S1制备适合太赫兹光谱检测皮革样品的检测支架；S2测量待测皮革样品的厚度；S3测量空白样品检测支架，获得参比太赫兹时域光谱信号；测量并获得装有待测样品检测支架的样品太赫兹时域光谱信号；利用公式计算获得样品的太赫兹光谱特征参数，包含吸收系数、折射率；S4多次测量同一样品不同位点，计算特征参数，取平均值减小误差，获得待测样品的太赫兹光谱特征参数的平均值；S5比对构建形成的皮革太赫兹特征光谱数据库确定皮革种类。该方法快速、无标记、无损伤、操作简单、适用范围、可克服检测鉴别者主观影响，能客观反映被检皮革及皮革制品的种类。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 赫兹 光谱 技术 皮革 种类 快速 无损 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法，其特征在于，步骤如下：S1：制备适合太赫兹光谱检测皮革样品的检测支架；S2：测量待测皮革样品的厚度；S3：测量空白样品检测支架，获得参比太赫兹时域光谱信号；测量并获得装有待测样品检测支架的样品太赫兹时域光谱信号；利用公式计算获得样品的太赫兹光谱特征参数，包含吸收系数、折射率；S4：多次测量同一样品不同位置的太赫兹时域光谱信号，计算特征参数，取平均值减小误差，获得待测样品的太赫兹光谱特征参数的平均值；S5：比对构建形成的皮革太赫兹特征光谱数据库确定待测皮革种类。
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