[发明专利]对触摸屏控制器中的不同采样率的并行分析有效

专利信息
申请号: 201710377734.5 申请日: 2017-05-25
公开(公告)号: CN108227977B 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: L·L·迪努;H·吉克昆尔 申请(专利权)人: 意法半导体亚太私人有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;张昊
地址: 新加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及对触摸屏控制器中的不同采样率的并行分析。在此公开的一种触摸屏控制器包括:电路,该电路被配置成用于以基础采样率生成包括样本的数字触摸电压。该触摸屏控制器还包括数字处理单元,该数字处理单元被配置成用于分析这些数字触摸电压样本的第一样本子集以确定其噪声成分,该第一样本子集与第一调查采样率下的样本相对应,该第一调查采样率是该基础采样率的第一函数。该数字处理单元还被配置成用于:分析该数字触摸电压的第二样本子集以确定其噪声成分,其中,该第二样本子集与第二调查采样率下的样本相对应,该第二调查采样率是该基础采样率的第二函数;以及根据所确定的其噪声成分从该第一调查采样率和该第二调查采样率当中确定优选采样率。
搜索关键词: 触摸屏 控制器 中的 不同 采样率 并行 分析
【主权项】:
1.一种触摸屏控制器,包括:电路,所述电路被配置成用于以基础采样率生成包括样本的数字触摸电压;数字处理单元,所述数字处理单元被配置成用于:分析所述数字触摸电压样本的第一样本子集以确定其噪声成分,所述第一样本子集与第一调查采样率下的样本相对应,所述第一调查采样率是所述基础采样率的第一函数;分析所述数字触摸电压的第二样本子集以确定其噪声成分,所述第二样本子集与第二调查采样率下的样本相对应,所述第二调查采样率是所述基础采样率的第二函数;以及根据所确定的其噪声成分从所述第一调查采样率和所述第二调查采样率当中确定优选采样率。
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