[发明专利]一种散射介质矢量透射矩阵的测量装置和方法有效

专利信息
申请号: 201710379505.7 申请日: 2017-05-25
公开(公告)号: CN107014784B 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 国承山;谢一言;王本义;程振加;岳庆炀 申请(专利权)人: 山东师范大学
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 张勇
地址: 250014 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种散射介质矢量透射矩阵的测量装置,包括矢量空间光调制单元、傅里叶透镜、马赫增德尔干涉系统、图像传感器和计算设备;所述矢量空间光调制单元由透射型空间光调制器和小角度双折射偏振分光器组成;光透过矢量空间光调制单元和傅里叶透镜的光再经过第一分光棱镜被分成两路进入马赫增德尔干涉系统中,进而到达图像传感器的记录面;到达记录面的光束发生干涉形成双通道角分复用偏振全息图;计算设备利用双通道角分复用偏振全息图,获得被测样品散射光场的复振幅与偏振信息,进而计算矢量透射矩阵。基于本发明,能够快速、精确地测量矢量透射矩阵。
搜索关键词: 一种 散射 介质 矢量 透射 矩阵 测量 装置 方法
【主权项】:
1.一种散射介质矢量透射矩阵的测量装置,其特征是,包括:矢量空间光调制单元、傅里叶透镜、马赫增德尔干涉系统、图像传感器和计算设备;所述矢量空间光调制单元置于傅里叶透镜的前焦面上,由空间光调制器和小角度双折射偏振分光器组成,并用一个准直激光束照明;透过矢量空间光调制单元和傅里叶透镜的光再经过第一分光棱镜被分成两路进入包含双针孔滤波屏F2和单孔滤波屏F1的马赫增德尔干涉系统中,进而到达图像传感器的记录面;到达记录面的光束发生干涉,形成双通道角分复用偏振全息图;计算设备利用双通道角分复用偏振全息图,获得被测样品散射光场的复振幅与偏振信息,然后计算矢量透射矩阵。
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