[发明专利]测试装置和多联机测试系统

摘要

本发明公开了一种测试装置和多联机测试系统，测试装置包括基板和从板；基板包括有主控芯片、基板接口和模数转化电路，从板包括有数模转化电路、模拟测试信号采样电路、模拟测试信号输出接口和数字测试信号输出接口；主控芯片输出的第一测试信号经从板的数模转换电路转换成为模拟测试信号，并从模拟测试信号输出接口输出给测试设备，并经模拟测试信号采样电路采样并经模数转换电路转换后输送回主控芯片，由主控芯片实施补偿校准，以提供精准的模拟测试信号。相比现有技术省去了大体积变阻箱的应用，提高了测试效率，还能够通过模拟测试信号的采样和补偿校准提供精准的模拟测试信号，解决现有多联机控制板测试中存在的效率低和可靠性低的技术问题。

主权项

测试装置，其特征在于，包括基板和从板；所述基板包括有主控芯片、模数转换电路和基板接口；所述从板包括从板接口、数模转换电路、模拟测试信号采样电路、模拟测试信号输出接口和数字测试信号输出接口；所述从板接口与所述基板接口插接实现所述基板与所述从板的电连接；所述主控芯片包括有与所述基板接口连接的输出第一测试信号的第一测试信号输出端口和输出第二测试信号的第二测试信号输出端口；所述数模转换电路从所述从板接口接收所述第一测试信号，并将所述第一测试信号转换为模拟测试信号后输出至所述模拟测试信号输出接口； 所述数字测试信号输出接口从所述从板接口接收所述第二测试信号；所述模拟测试信号采样电路用于采集所述模拟测试信号得到采样模拟测试信号并输出至所述从板接口；所述模数转换电路，用于从所述基板接口接收所述采样模拟测试信号，并将所述采样模拟测试信号转换为采样数字测试信号输出至所述主控芯片；所述主控芯片，用于基于所述采样数字测试信号对输出的所述第一测试信号进行补偿校准。