[发明专利]一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪及测量系统

摘要

本发明适用于太赫兹测量技术领域，尤其涉及一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪及测量系统。本发明所提供的自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪包括脉冲展宽器、宽带半波片、透镜、太赫兹电光晶体、双折射晶体、线偏振器以及光谱仪。上述光学元件通过巧妙的自参考干涉结构设计，在基于电光采样及光谱干涉原理的基础上，采用啁啾脉冲为探针实现了对高强度太赫兹脉冲时域光谱的单次测量。

主权项

1.一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪，其特征在于，所述干涉仪包括：脉冲展宽器，用于将入射的探测脉冲展宽成啁啾脉冲，所述已展宽成啁啾脉冲的探测脉冲入射至宽带半波片；所述宽带半波片，用于调整所述已展宽成啁啾脉冲的探测脉冲的偏振方向，已调整偏振方向的探测脉冲入射至透镜；所述透镜，用于将所述已调整偏振方向的探测脉冲聚焦至太赫兹电光晶体；所述太赫兹电光晶体，用于使所述探测脉冲与入射的待测太赫兹脉冲重合，以实现将所述待测太赫兹脉冲的太赫兹场强信号加载到所述探测脉冲中，已加载有太赫兹场强信号的探测脉冲入射至双折射晶体；所述双折射晶体，用于使所述已加载有太赫兹场强信号的探测脉冲生成相互时间延迟的脉冲对，分别为o光脉冲和e光脉冲，所述脉冲对入射至线偏振器；所述线偏振器，用于使所述脉冲对的o光脉冲和e光脉冲均一半透射至光谱仪，透过所述线偏振器的脉冲对偏振方向一致；所述光谱仪，用于记录经所述线偏振器后的脉冲对的光谱干涉数据，以便基于所述光谱干涉数据实现太赫兹电光相位调制测量。