[发明专利]基于结构光对比度优化的两步相移算法有效

专利信息
申请号: 201710386460.6 申请日: 2017-05-26
公开(公告)号: CN107179058B 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 殷永凯;毛家琦;孟祥锋;王玉荣;杨修伦 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 王绪银
地址: 250199 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种基于结构光对比度优化的两步相移算法,包括两步相移相位计算和对比度优化两个过程,经过初始相位计算过程,由两幅条纹图数据先求得反射率分布,再计算折叠相位的两个解,经过解的判别,构建初始相位分布并标记敏感像素点;基于绝对相位的线性特征,通过相位和对比度的联合优化,得到标记点处更为准确的结构光对比度;将修正后的结构光对比度进行全局扩散,并再次进行相位计算以得到更精确的相位信息。该方法将环境光的影响纳入到结构光对比度的变化中,简化了相移中的未知量,减少了投采相移图像所需要的时间,得到更准确的相位信息,对比度优化仅在局部邻域进行,兼顾了对比度的全局非一致性和计算效率。
搜索关键词: 结构光 相移 对比度优化 初始相位 相位计算 相位信息 算法 反射率分布 非一致性 计算过程 计算效率 局部邻域 绝对相位 联合优化 线性特征 标记点 环境光 条纹图 像素点 折叠 构建 全局 图像 修正 扩散 敏感
【主权项】:
1.一种基于结构光对比度优化的两步相移算法用于相位重建的方法,其特征是:包括两步相移相位计算和对比度优化两个过程:(1)两步相移相位计算过程,该过程处理采集到的两幅相移条纹图,计算出对应像素点上的相位信息;包括以下步骤:①对采集到的图像进行滤波,以减少噪声带来的影响;②用对比度变化表征背景光强,得到关于两步相移的光强分布模型,由两步相移的光强分布模型结合三角函数的平方和关系,得到关于物体表面反射率R的一元二次方程,求解该方程得到反射率R的两个解;③将得到的反射率R的解代回到光强分布模型中,得到关于折叠相位的两个④根据绝对相位递增的特性,从两个折叠相位解中筛选出递增部分,组成折叠相位的初始解,同时标记出对比度敏感的像素点;(2)对比度优化过程,是根据绝对相位线性递增的特征,选取对结构光对比度敏感的区域上像素点,在其邻域上做线性假设,通过关于对比度和相位的联合优化,达到修正对比度的目的;具体包括以下步骤:①根据绝对相位的线性特性,对标记像素点的水平邻域上的相位值做线性假设,取标记像素点水平邻域上的5‑7个点,将这5‑7个点的光强分布模型联立,通过对比度和绝对相位的联合优化,达到优化区域对比度的目的;②根据临近像素对比度相近的特点,由局部区域的对比度,对整体进行插值填充,得到优化后的整个投影范围内的结构光对比度分布情况;优化后的对比度分布代入两步相移相位计算过程中的光强分布模型,再经过相位计算过程中的②‑④步,得到更为准确的反射率分布情况和相位信息。
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