[发明专利]韦布尔杂波环境下基于偏斜度和均值比的恒虚警检测方法

摘要

本发明公开了一种韦布尔杂波环境下基于偏斜度和均值比的恒虚警检测方法。该方法步骤如下：对包络检波器的输出进行恒虚警检测，进行恒虚警检测的参考滑窗分为前沿滑窗和后沿滑窗；计算前、后沿滑窗的偏斜度SK和统计均值比MR，将SK与偏斜度门限进行比较，判断前、后沿滑窗是否含有干扰目标；将MR与均值比门限进行比较，判断前、后沿滑窗是否来自同一分布；根据判断结果，选择合适的参考滑窗，对参考单元数据采用Log‑t CFAR检测方法计算检测门限，判断检测单元是否存在目标。本发明在均匀杂波环境中具有较低的恒虚警检测损失，在多目标环境中具有良好的目标检测能力，在杂波边缘环境中具有良好的虚警控制能力。

主权项

一种韦布尔杂波环境下基于偏斜度和均值比的恒虚警检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，将雷达匹配滤波器或者动目标检测器输出结果送入包络检波器，对包络检波器的输出进行恒虚警检测，进行恒虚警检测的参考滑窗共有N个参考单元，分为前沿滑窗A和后沿滑窗B，各有N/2个服从韦布尔分布的参考单元，分别为XA,1，…，XA,N/2和XB,1，…，XB,N/2；步骤2，先计算前、后沿滑窗的统计均值比MR，再对参考单元数据进行对数变换，分别计算前、后沿滑窗的偏斜度SK：将SK与偏斜度门限TSK进行比较，判断前、后沿滑窗是否含有干扰目标；将MR与均值比门限KMR进行比较，判断前、后沿滑窗是否来自同一分布；步骤3，根据步骤2判断结果，选择合适的参考滑窗，对参考单元数据采用Log‑t CFAR检测方法计算检测门限，判断检测单元是否存在目标。