[发明专利]一种基于ZnO竖直纳米棒阵列的光探测器的制备方法及其用途有效

专利信息
申请号: 201710388254.9 申请日: 2017-05-27
公开(公告)号: CN107275437B 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 王敏;马杨;许智豪;吴从军;徐志勇;杨金华;贾良鹏 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人: 余成俊
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种基于ZnO竖直纳米棒阵列的光探测器的制备方法及其用途,其在含有氧化硅层的硅片基底上用电子束蒸发沉积图形化ZnS薄膜,然后,将图形化ZnS薄膜在空气中500‑510℃氧化2‑2.5h,使其变成图形化的ZnO薄膜,将其作为制备竖直ZnO纳米棒阵列的种子层;在所得的图形化的ZnO薄膜种子层上使用光刻技术固定电极图形,在种子层上沉积Cr和Au作为源漏极,将所得带有电极的图形化ZnO种子层的基底,正面朝下,悬浮在六水合硝酸锌和六次甲基四胺的混合制备的生长液中,加热,保温适当时间后,所得样品用去离子水冲洗,即为光探测器。
搜索关键词: 一种 基于 zno 竖直 纳米 阵列 探测器 制备 方法 及其 用途
【主权项】:
1.一种基于ZnO竖直纳米棒阵列的光探测器的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)在含有氧化硅层的硅片基底上用电子束蒸发沉积图形化ZnS薄膜,然后,将图形化ZnS薄膜在空气中500‑510℃氧化2 ‑2.5h,使其变成图形化的ZnO薄膜,将其作为制备竖直ZnO纳米棒阵列的种子层;(2) 在步骤(1)所得的图形化的ZnO薄膜种子层上使用光刻技术固定电极图形,在种子层上沉积Cr和Au作为源漏极,将所得带有电极的图形化ZnO种子层的基底,正面朝下,悬浮在六水合硝酸锌和六次甲基四胺的混合制备的生长液中,加热到90‑95℃,保温3.5‑4.5h后,所得样品用去离子水冲洗,即得带有Au/Cr电极的竖直ZnO纳米棒阵列,即为光探测器;所述的使用光刻技术固定电极图形具体操作是:在含有氧化硅层的硅片基底上,用匀胶机旋涂光刻胶,然后在加热台上80度烤5min,接着在紫外深度光刻机上装上掩膜版,这个掩膜版上有图形,将硅片基底在光刻机里曝光后,放到显影液里显影,再用去离子水冲洗,吹干,就在硅片基底上得到图形,接下来再拿去镀膜。
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