[发明专利]基于逆高斯过程的性能退化试验贝叶斯可靠性评估方法有效

专利信息
申请号: 201710389892.2 申请日: 2017-05-27
公开(公告)号: CN107220500B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 李鸿志;周郁;黄勇;张衡;李雁斌;张志俊 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 朱成之
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于逆高斯过程的性能退化试验贝叶斯可靠性评估方法,包含:S1、建立逆高斯过程退化统计模型,确定可靠度函数和平均失效时间;S2、收集产品在研制各阶段中试验件的性能退化数据;S3、将试验件性能退化数据折合到正样产品在正常工作应力下的性能退化数据,作为贝叶斯可靠性估计的先验信息;S4、将正样产品的性能退化数据作为后验信息,结合先验信息,得到计算可靠度函数的参数;S5、计算可靠度函数和平均失效时间,得到产品可靠性的贝叶斯估计结果。本发明采用逆高斯模型刻画产品性能的退化过程,能更好的拟合数据;将研制各阶段的试验件性能退化数据纳入贝叶斯估计先验信息范畴,使产品贝叶斯可靠性评估结果更精确、更全面。
搜索关键词: 基于 逆高斯 过程 性能 退化 试验 贝叶斯 可靠性 评估 方法
【主权项】:
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