[发明专利]利用静力触探比贯入阻力确定旁压试验基准水平基床系数的方法

摘要

本发明公开了利用静力触探比贯入阻力确定旁压试验基准水平基床系数的方法，包括步骤：1)对测量地区土层进行静力触探试验，采集测量地区的静力触探比贯入阻力p_s；2)通过计算获得旁压试验基准水平基床系数K_h1，计算公式为：对于黏性土：对于砂类土：K_h1＝6.57p_s。本发明可通过静力触探比贯入阻力p_s快速、准确、经济地获取地层的旁压试验基准水平基床系数，为工程设计提供参考。本发明在不增加测试技术手段的前提下，解决了利用静力触探测试技术直接快速测试原本需要旁压试验才能得到旁压试验基准水平基床系数的问题，拓展了静力触探的应用功能，节约了勘察成本，提高了效率，效果明显。

主权项

1.一种利用静力触探比贯入阻力确定旁压试验基准水平基床系数的方法，其特征在于，包括如下步骤：1)对测量地区土层进行静力触探试验，采集测量地区的静力触探比贯入阻力ps；2)通过计算获得旁压试验基准水平基床系数Kh1，计算公式为：对于黏性土：对于砂类土：Kh1＝6.57ps  (2)其中，式(1)适用于流塑至硬塑的黏性土，式(2)适用于松散至密实的砂类土。