[发明专利]复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法在审
申请号: | 201710392707.5 | 申请日: | 2017-05-27 |
公开(公告)号: | CN107144525A | 公开(公告)日: | 2017-09-08 |
发明(设计)人: | 鞠杨;任张瑜;王里;毛灵涛;刘红彬 | 申请(专利权)人: | 中国矿业大学(北京) |
主分类号: | G01N19/00 | 分类号: | G01N19/00;G01N21/84 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 100086 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,通过3D打印技术制备复杂非均质结构体的透明光敏树脂模型,作为试件;将试件置于圆偏振光暗场的光路中,对试件进行连续应力加载并录像;再根据录像生成的视频,得到连续变化的多张全场应力条纹灰度图像,进而得到图像中各个位置像素点的灰度值变化数列,最后结合灰度值与条纹级数之间的关系,计算得到连续加载条件下的全场条纹级数,进而计算得到连续加载条件下的全场应力值;因此本方法能够实现复杂非均质结构体在固定光场条件下受较高外部荷载时的全局动态应力场演化规律的提取与量化。 | ||
搜索关键词: | 复杂 非均质 结构 动态 力场 演化 规律 测量方法 | ||
【主权项】:
一种复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,包括:通过3D打印技术制备复杂非均质结构体的透明光敏树脂模型,作为试件;将所述试件置于圆偏振光暗场的光路中,对所述试件进行连续应力加载并录像;根据录像生成的视频,得到连续变化的多张全场应力条纹灰度图像;根据所述连续变化的多张全场应力条纹灰度图像,得到图像中各个位置像素点的灰度值变化数列;根据灰度值与条纹级数之间的关系以及所述图像中各个像素点的灰度值变化数列,计算得到连续加载条件下的全场条纹级数,进而计算得到连续加载条件下的全场应力值。
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