[发明专利]一种高通量的折射率测量芯片、装置以及方法有效
| 申请号： | 201710395830.2 | 申请日： | 2017-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN107228839B | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 郭文平;夏珉;杨克成;李微 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/43 | 分类号： | G01N21/43 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 王世芳;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种高通量的折射率测量芯片、测量装置以及测量方法，属于精密仪器领域，其中，测量芯片包括芯片本体，芯片本体的一个面为光学平面，该光学平面用于与外界的折射率测量设备相面接触，在芯片本体上设置有至少两个用于容置待测量液体的沟槽，沟槽的深度小于或者等于所述芯片本体的厚度，沟槽的两端分别设置有液体输入通道和液体输出通道。本发明还提供一种高通量的折射率测量装置，其包括如上所述的测量芯片。本发明还提供一种高通量的折射率测量方法，能实现同时测量获得多种液体的折射率。本发明装置测量效率高，测量结果一致性好，不易引入随机误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通量 折射率 测量 芯片 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种高通量的折射率测量芯片，其特征在于，其包括芯片本体，该芯片本体的一个面为光学平面，该光学平面用于与外界的折射率测量设备相面接触，在所述芯片本体上设置有至少两个用于容置待测量液体的沟槽，所述沟槽的深度小于或者等于所述芯片本体的厚度，所述沟槽的两端分别设置有液体输入通道和液体输出通道，所述沟槽具有敞口，该敞口位于光学平面上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学，未经华中科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710395830.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
