[发明专利]一种测量光在探测器里平均反射步长的方法

摘要

本发明公开了一种测量光在探测器里平均反射步长的方法。本方法为：1)在选取的内壁为漫反射为主高反射材料的探测器内填充待测介质，并设置一个光电倍增管；2)利用选取的光源在该探测器里照射，用所述光电倍增管采集光信号；3)改变该探测器内壁的反射面积，重复步骤2)；然后根据采集的光信号拟合得到不同反射面积时光子在该探测器的有效衰减长度λ’；4)根据步骤3)得到的数据，用公式1/λ’＝1/λ‑ln(f)/L‑ln(r)/L拟合λ’关于反射面积占该探测器内壁面积比例r的对应点，通过拟合测量出光在该探测器里填充待测介质时的平均反射步长L。本方法操作简单且误差小精度高，原理新颖，具有很强的深度开发和应用价值。

主权项

1.一种测量光在探测器里平均反射步长的方法，其步骤为：1)在选取的内壁为漫反射为主高反射材料的探测器内填充待测介质，并设置一个光电倍增管；2)利用选取的光源在该探测器里照射，用所述光电倍增管采集光信号；3)改变该探测器内壁的反射面积，重复步骤2)；然后根据采集的光信号拟合得到不同反射面积时光子在该探测器的有效衰减长度λ’；4)根据步骤3)得到的数据，用公式1/λ’＝1/λ‑ln(f)/L‑ln(r)/L或1/λ’＝1/λ”‑ln(r)/L拟合有效衰减长度λ’关于反射面积占该探测器内壁面积比例r的对应点，通过拟合测量出光在该探测器里填充待测介质时的平均反射步长L；其中，λ为光子在该待测介质里的吸收长度，f为该探测器内壁材料的反射率，1/λ”＝1/λ‑ln(f)/L。