[发明专利]高光谱管道镜系统在审
| 申请号： | 201710398302.2 | 申请日： | 2017-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN107490549A | 公开（公告）日： | 2017-12-19 |
| 发明（设计）人： | W·P·莫泽;G·E·乔治森;M·萨法伊 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 | 代理人： | 徐东升,赵蓉民 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开一种用于检查结构(206)的方法和设备(204)。将电磁辐射(232)从电磁辐射发射系统(226)发送到结构(206)上的表面(240)。使用位于管道镜检查壳体(218)里面的滤波器(218)来过滤对电磁辐射(232)的响应(238)。滤波器(228)被配置为传递对指向结构(206)上的表面(240)的电磁辐射(232)的响应(238)中的若干波长(236)。使用传感器阵列(230)从被传递通过滤波器(228)的若干波长(236)生成来自若干波长(236)的数据(246)。结构(206)上的表面(240)的二维图像(250)被生成为具有一组图形指示器(254)，该组图形指示器(254)指示对肉眼不可见的一组不一致(212)。使用来自传感器阵列(230)的数据(246)生成该二维图像(250)。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 管道 系统 | ||
【主权项】：
一种管道镜系统(204)，其包括：管道镜检查壳体(218)；电磁辐射发射系统(226)，其与所述管道镜检查壳体(218)相关联，其中所述电磁辐射发射系统(226)被配置为发射电磁辐射(232)；滤波器(228)，其位于所述管道镜检查壳体(218)里面，其中所述滤波器(228)被配置为传递对指向结构(206)上的表面(240)的所述电磁辐射(232)的响应(238)中的若干波长(236)，其中通过所述管道镜检查壳体(218)中的开口(242)来接收所述响应(238)；以及传感器阵列(230)，其在所述管道镜检查壳体(218)里面位于所述滤波器(228)后面，其中所述传感器阵列(230)包括传感器，所述传感器被配置为从由所述滤波器(228)传递的所述若干波长(236)生成数据(246)，使得能够对所述结构(206)上的所述表面(240)进行高光谱分析(248)。
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