[发明专利]芯片尺寸级深紫外发光二极管共晶封装方法有效

专利信息
申请号: 201710399111.8 申请日: 2017-05-31
公开(公告)号: CN107256911B 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 谢海忠;闫建昌;魏学成;魏同波;宋昌斌;张韵;王军喜;李晋闽 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/48;H01L33/58
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种芯片尺寸级深紫外发光二极管共晶封装方法,包括以下步骤:将P、N电极分开的深紫外芯片固定在石英透镜上;在深紫外芯片侧面填充液体胶,使得液体胶的上表面与所述深紫外芯片的P、N电极平齐,并固化液体胶;将第一AuSn片固定在所述深紫外芯片P、N电极上方并且覆盖在液体胶上表面,并预留P、N电极的隔离道;将第二AuSn片固定在基板上,所述第二AuSn片与所述第一AuSn片上下对齐;将所述第一AuSn片和所述第二AuSn片共晶融合,完成封装。本发明将芯片尺寸工艺用在深紫外LED封装上,提高了封装效率,降低了封装成本;共晶封装工艺解决了深紫外LED芯片的散热问题,提高了深紫外LED的寿命。
搜索关键词: 芯片 尺寸 深紫 发光二极管 封装 方法
【主权项】:
1.一种芯片尺寸级深紫外发光二极管共晶封装方法,包括以下步骤:在衬底上依次生长AlN模板层、n‑AlGaN层、AlGaN基量子阱结构、p‑AlGaN层、p‑GaN层;所述AlN模板层的厚度为0.5‑2um、所述n‑AlGaN层的厚度为1.5‑3.5um、所述AlGaN基量子阱结构为3‑5对、所述p‑AlGaN层的厚度为40‑60nm、所述p‑GaN层的厚度为150‑300nm;将P、N电极分开的深紫外芯片固定在石英透镜上;使用模具固定带有深紫外芯片的石英透镜,使得模具开口处与深紫外芯片表面平齐;在所述深紫外芯片侧面填充液体胶,使得液体胶的上表面与所述深紫外芯片的P、N电极平齐,并固化液体胶;将第一AuSn片固定在所述深紫外芯片P、N电极上方并且覆盖在液体胶上表面,并预留P、N电极的隔离道;将第二AuSn片固定在基板上,所述第二AuSn片与所述第一AuSn片上下对齐;将所述第一AuSn片和所述第二AuSn片共晶融合,共晶融合的温度为260‑400度之间,完成封装;其中,所述第一AuSn片和所述第二AuSn片中Au和Sn的比例为20:80,其厚度为2‑20微米。
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